性能特點
■ 超高速測量：15ms(測試頻率≥100Hz時)
■ 大型LCD(240×64點陣)顯示
■ 人性化引導式操作界面
■ 50Hz－100kHz, 10個典型測試頻率
■ 10mVrms—1.0Vrms可編程測試電平
■ 內(nèi)部DC偏流源Z大可達200mA（使用25Ω內(nèi)阻）
■ 的負載校準功能
■ 4種可選源阻抗模式，便于兼容

產(chǎn)品型號：TH2825A
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-02-25
訪問量：1320

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產(chǎn)品詳情

簡要介紹

■TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產(chǎn)品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內(nèi)阻選擇和強大的測試功能,可滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。

高速測量

■本產(chǎn)品運用了元件測試領域的技術(shù)，測試能力可達到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了的zui高測量速度15ms/次，尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題，為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。

多種可選的信號源阻抗模式

■不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結(jié)果，TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要，保證不同儀表間測試結(jié)果的*性。

恒電平模式適用于多層陶瓷電容器(MLCC)的測量

■陶瓷電容器（MLCC）對測試信號電平極為敏感，TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器，允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試，100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。

強大的變壓器測試能力

■TH2825A具備變壓器測試能力，使用專門的變壓器測試夾具，無須改變測試線方式便可方便地測量匝數(shù)比（N，1/N）、互感（M）、初次級電感（LA、LB），初次級直流電阻（DCR2）。有-5V-5V偏置電壓（僅TH2825A），可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。

■該產(chǎn)品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent

與儀表的接口兼容性

技術(shù)參數(shù)

型號		TH2825A
顯示器		240x64點陣LCD顯示器，5位讀數(shù)分辨率
測試參數(shù)	LCR參數(shù)	\|Z\|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR
	變壓器參數(shù)	DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB
測試頻率		50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10點
測試電平		10mVrms-1.0Vrms,1mV步進＜200mV10mV步進≥200mV
信號源內(nèi)阻		25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒壓）
DC偏置電流（≥1kHz）		當100Ω內(nèi)阻時，±50mAMax當25Ω內(nèi)阻時，±200mAMax
基本測量準確度		0.1%
		\|Z\|,R,X	0.01mΩ—99.99MΩ
		G,B	0.0001μS—999.99S
		C	0.001pF—1.9999F
		L	0.001μH—99.9999kH
		Q	0.0001—9999
顯示范圍		D	0.0001—9999
		θ(DEG)	-180.00°—180.00°
		θ(RAD)	-3.1415—3.1415
		Δ%	-999.99%—999.99%
		TurnsRatio	0.001—9999.9
		DCR	0.1mΩ—99.99MΩ
		M,L2	0.001μH—99.99kH
測量速度（≥100Hz）		快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms
等效電路		串聯(lián),并聯(lián)
量程方式		自動,保持/手動切換
觸發(fā)方式		內(nèi)部,手動,外部，總線
平均次數(shù)		1—255
校準功能		開路,短路,負載校正
測量端		5端
顯示方式		直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監(jiān)示),檔號及檔計數(shù)
列表掃描		4點頻率,電平列表掃描測試
比較器功能		九檔（八檔合格，一檔不合格）
		上超/合格/下超比較器
存儲器		12組內(nèi)部儀器設定供存儲/調(diào)用
接口		RS-232C,HANDLER,GPIB(選件)
		4263B*兼容，為與4263B的互換提供了良好的條件。
		注1：快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數(shù)小字符顯示比較判別。若包括測試參數(shù)大字符顯示，zui快測試時間另加5ms。

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